AREX L 残余奥氏体分析仪_元素分析仪_电感耦合等离子发射光谱仪_GNR残余应力奥氏体分析仪

产品分类: 元素分析仪电感耦合等离子体光谱仪全自动测汞仪微波消解仪三重四极杆液质联用仪 X 射线衍射仪 GNR 残余应力测试仪 GNR残余奥氏体分析仪哈希水质分析仪系列多相流流量计光干涉显微镜仪器耗材

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AREX L 残余奥氏体分析仪

仪器简介

X 射线衍射法是测量钢体中残余奥氏体含量的有效方法，而且是能够测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法。根据 ASTM E975 的X射线测量近无规结晶取向钢中残余奥氏体的标准方法，AREX L 能够很轻松检测出钢体中残余奥氏体的含量，同时具有良好的检出限、精度高、准确度好等优点，并且操作简单，安全高效。

何为残余奥氏体

钢结构部件的相变非常重要，它决定了产品的机械和物理性能。硬化钢铁的过程是首先加热到奥氏体相，然后淬火冷却到室温转变为硬质的马氏体相。奥氏体在高温钢中呈现面心立方结构（FCC），冷却时，钢体大部分转化为体心立方结构（BCC）的铁素体，或者转变为体心正方结构（BCT）的马氏体。根据冷却钢的速率，会有一部分钢仍为奥氏体（通常为 0-40%），因此称为“残余奥氏体”。奥氏体的结构比铁素体还有马氏体的结构都要小，如果在转变过程中有残余奥氏体存在，随着时间的延长，产品中的残余奥氏体会转变为其他相体，这些变化会导致产品的形状发生改变。此外，其他的物理性能如硬度和强度，也会因不同相体的转变而变化，最终影响到产品的使用寿命。

X 射线衍射法测量残余奥氏体原理

在许多工业生产加工过程中，对残余奥氏体含量的控制非常严格，精确测量其含量，对于钢铁热处理过程中产品特性和质量的控制有重大意义。因为化学蚀刻和传统金相研究存在灵敏度和准确度较低的情况，所以无法做到工业生产中对残余奥氏体的精确测量，而X射线衍射法可以测量低至0.5%的残余奥氏体含量，故ASTM颁布E975标准方法：X射线法测量近无规结晶取向钢中残余奥氏体的含量，AREX D 正是根据此标准设计开发，并且为专用的台式残余奥氏体分析仪，无需依靠搭载模块在常规XRD上实现残余奥氏体测试，具有操作简便、检测速度快、数据准确等特点，对操作人员要求不高，做到轻松上手。

由于奥氏体相结构与其他相的结构不同，在不同的测试点奥氏体会产生于铁素体和马氏体不同的衍射峰值，而钢铁中相的总数和与其衍射峰值的强度成正比。简单来说，残余奥氏体的总含量与奥氏体峰值强度和其他相峰值强度比有关。利用 X 射线衍射仪采集四个（或五个）衍射峰值就能确定残余奥氏体的浓度，其中两个是铁素体和马氏体，另外两个是奥氏体，通过四个（或五个）峰值强度的对比即可获得样品中残余奥氏体的百分比含量。AreX D 可以测量奥氏体 Y（200）(220) (311)、铁素体 a(200) (211) 的衍射峰值强度，并分别提供奥氏体 / 铁素体的峰值强度比。通过多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向带来的影响，并能对检测到的碳化物干扰加以计算。

仪器性能特点

主要特点：
■ 可测奥氏体200、220/311、铁素体200/211的衍射峰值强度，符合 ASTM E975 国际标准；
■ 多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向带来的影响；
■ 使用精密的自动反馈控制电路获得很高的X射线发生器稳定性；
■ 自动调整高电压与电流输出脉动值；
■ 配备大功率、优质的玻璃（陶瓷）X 射线管；
■ 高聚焦单毛细管准直器，高分辨率CCD探测器。

1、专业精准的结构设计，操作简便，一键测试，结果准确。

2、X 射线管

ARE X 配备了 Mo 高性能 X 射线管，对结果干扰极低，结果更加准确，测量结果优于其它 X 射线管。

3、高性能固态检测器

专为检测 X 射线而设计的高性能固态检测器，具有优异的检测效率，该检测器基于单光子检测技术，无噪音影响，数据采集速度快速可靠。与传统 NaI 闪烁检测器相比，ARE X 配备的高性能固态检测器在不影响强度、分辨率、峰形的情况下同时检测多角度信号，将分析时间从数小时缩短到几分钟。同时具有体积小、空气冷却、无需维护等优点，可抑制 X 荧光背景使检测结果不受 X 荧光背景的影响，更加准确。

4、Z轴校准装置

将样品放入样品架后，关闭屏蔽门，激光校准装置会自动对焦样品表面位置，也可通过与z轴相连的旋钮手动对焦，归零样品就位，就可以进行测试。