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APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统，保证X 射线发生器更加稳定；预设高压和激发电流，并可实现自动斜坡程度上升；细焦点的陶瓷X 射线管具有优良的重现性和稳定性；采用高聚焦单毛细管准直器，高分辨多探测类型探测器。
TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。
EXPLORER 多功能X射线衍射仪 在众多分析领域都可发挥优良的性能，例如可以测量混合物质的相态；检测微观的结构性质，例如薄膜或块状样品中的残应力和晶体取向等。其模块化设计，更是为仪器提供了广阔的升级空间，通过升级仪器可以满足新的分析需求。
TX2000 全反射X荧光仪 分析原理是基于X荧光能谱法，采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。
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