AREX D 快速残余奥氏体分析仪

仪器简介

        AreX D 是一款基于ASTM E975标准设计的X射线衍射仪，专门用于精确测量钢铁热处理过程中残余奥氏体的含量。该设备采用紧凑设计，配备风冷式X射线管和高像素USB摄像头，确保了测量的准确性和便捷性。其独特的多衍射峰测量方式能有效减少晶体取向的影响，同时傻瓜式一键操作，测量时间仅需3分钟，非常适合工业生产中的在线检测需求。

何为残余奥氏体

       钢结构部件的相变非常重要，它决定了产品的机械和物理性能。硬化钢 铁的过程是首先加热到奥氏体相，然后淬火冷却到室温转变为硬质的马氏体 相。奥氏体在高温钢中呈现面心立方结构（FCC），冷却时，钢体大部分转 化为体心立方结构（BCC）的铁素体，或者转变为体心正方结构（BCT）的 马氏体。根据冷却钢的速率，会有一部分钢仍为奥氏体（通常为 0-40%）， 因此称为“残余奥氏体”。   奥氏体的结构比铁素体还有马氏体的结构都要小，如果在转变过程中有 残余奥氏体存在，随着时间的延长，产品中的残余奥氏体会转变为其他相体， 这些变化会导致产品的形状发生改变。此外，其他的物理性能如硬度和强度， 也会因不同相体的转变而变化，最终影响到产品的使用寿命。

X 射线衍射法测量残余奥氏体原理 

      在许多工业生产加工过程中，对残余奥氏体含量的控制非常严格，精确测量其含量，对于钢铁热处理过程中产品特性和质量的控制有重大意义。因为化学蚀刻和传统金相研究存在灵敏度和准确度较低的情况，所以无法做到工业生产中对残余奥氏体的精确测量，而X射线衍射法可以测量低至0.5%的残余奥氏体含量，故ASTM颁布E975标准方法：X射线法测量近无规结晶取向钢中残余奥氏体的含量，AREX D 正是根据此标准设计开发，并且为专用的台式残余奥氏体分析仪，无需依靠 搭载模块在常规XRD上 实现残余奥氏体测试，具有操作简便、检测速度快、数据准确等特点，对操作人员要求不高，做到轻松上手。   

      由于奥氏体相结构与其他相的结构不同，在不同的测试点奥氏体会产生于铁素体和马氏体不同的衍射峰值，而钢铁中 相的总数和与其衍射峰值的强度成正比。简单来说，残余奥氏体的总含量与奥氏体峰值强度和其他相峰值强度比有关。利 用 X 射线衍射仪采集四个（或五个）衍射峰值就能确定残余奥氏体 的浓度，其中两个是铁素体和马氏体，另外两个是奥氏体， 通过四个（或五个）峰值强度的对比即可获得样品中残余奥氏体的 百分比含量。AreX D 可以测量奥氏体 Y（200）(220) (311)、铁 素体 a(200) (211) 的衍射峰值强度，并分别提供奥 氏体 / 铁素体的峰值强度比。通过多衍射峰测量方式能 够减少晶体优化取向带来的影响，并能对检测到的碳化 物干扰加以计算。

仪器性能及特点

■结构紧凑，节省实验室空间，风冷式X射线管；
■采用稳定的微聚焦Mo靶射线管+滤光片；
■配备高像素USB摄像头，样品定位方便、准确；
■具有用于X射线安全保护的连锁装置；
■可测奥氏体200/220/311、铁素体200/211的衍射峰值强度；
■多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向带来的影响；
■软件界面设计简洁友好，操作简便；
■快速测量，测量时间小于3 分钟。

1、专业的结构设计，一键式傻瓜式操作，方便使用。

2、安全保障

 AreX D 的设计遵循有关 X 射线、设备和电气安全的法   定要求；

根据 ANSI N43.3-1993 和其他开放式 X 射线仪器操   作的行业标准，AreX D 工作时的辐射水平明显低于常   规的年剂量限值（1 mSv/ 年）； 

 当 X 射线开启时，AreX D 样品舱门不能打开，如果强   制打开系统则会立即关闭，保护用户免受 X 射线照射。

3、专用奥氏体软件

        AerX D 软件界面简洁友好，具有硬件控制、数 据采集、数据分析等功能，并可根据客户要求提供定 制数据分析服务。每次测量结束后，结果即时在软件 右上方显示，同时可自动提示用户此样品是否符合 ASTM E975 之规定。

应用：